回路電阻測(cè)試儀的測(cè)試方法

回路電阻測(cè)試儀的測(cè)試方法

   
    高壓斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力。所以，斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器檢修、安裝、質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。

     接觸電阻的測(cè)量有許多種方法。日本學(xué)者Isao Minowa提出用超導(dǎo)量子器件測(cè)量接觸電阻，H.Archi提出利用電解槽法測(cè)量接觸電阻，波蘭學(xué)者Jerzy Kaczarek提出用三次諧波法測(cè)量接觸電阻，這些方法一般是在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行電接觸研究所采用的方法。工程中，通常采用四端子法來(lái)測(cè)量實(shí)際觸點(diǎn)的接觸電阻。
      過(guò)去，通常采用直流雙臂電橋測(cè)量斷路器的接觸電阻。但是，當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí)，由于雙臂電橋測(cè)量回路通過(guò)的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜，測(cè)出的電阻示值偏大，但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿，不妨礙正常電流通過(guò)。因此，測(cè)試采用直流壓降法測(cè)試時(shí)，電流不得太小。

    斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此，斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修和質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。

    由于開(kāi)關(guān)觸頭之間存在氧化膜，如果用較小的電流檢測(cè)，由于氧化膜的影響測(cè)試結(jié)果一般偏大很多，但氧化膜在大電流下是能被擊穿的，理論上，測(cè)試電流只要不超過(guò)額定電流，應(yīng)該是越大越好，但規(guī)程在制定的時(shí)候考慮到當(dāng)時(shí)國(guó)內(nèi)相關(guān)儀器的生產(chǎn)水平，作出了不得小于100A電流的規(guī)定。
      由于斷路器接觸電阻很小，只有用很高的電流檢測(cè)，才能保證一定的精度，抗干擾能力也越強(qiáng)。